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J-GLOBAL ID：200903095804550778
薄層クロマトグラフ質量分析計による混合物の分離・定性分析方法及び薄層クロマトグラフ質量分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
吉田 勝広 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994023495
Publication number (International publication number)：1995209252
Application date： Jan. 26, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：
【要約】【目的】 静電荷潜像に忠実であり、更に、厚みのある転写紙やフィルム等、多種多様な転写材を用いても「転写中抜け」等の現象を生じない、または該現象が抑制された高品位な画像を得ることの出来る画像形成方法を提供すること。【構成】 接触転写工程を有する画像形成方法において、現像剤が、示差熱分析装置によって測定されたガラス転移点(Tg)が40〜90°Cである熱可塑性負帯電シリコーンレジン、結着樹脂及び着色剤を少なくとも含有し、該シリコーンレジンが有機置換基として、アルキル基、アリール基、変性アルキル基及び変性アリール基からなる群から選ばれる1種以上の置換基と、フェニル基及び変性フェニル基から選ばれる1種以上の置換基とを有する負帯電性現像剤であることを特徴とする画像形成方法等。
Claim (excerpt)：
混合物中の各成分を薄層クロマトグラフィーにより分離し、次に該分離された各成分を局所的な加熱手段により順次、熱抽出、熱分解し、更に各成分から放出されてくるガスをイオン化して質量分析計に直接導入し、混合物の分離及び各分離成分の定性分析を行なうことを特徴とする薄層クロマトグラフ質量分析計による分離・定性分析方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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