ストークス・パラメータ測定方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：菅隆彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992174557
Publication number (International publication number)：1994018332
Application date： Jul. 01, 1992
Publication date： Jan. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】容易に校正可能な測定装置を組み込んだ、光雑音中に於いてもストークス・パラメータを正確に実時間で測定することが可能な方法及び装置を提供する。【構成】測定対象物εから出力される被測定光信号L1をハーフ・ミラー等6a〜6cにより複数に分岐し、当該複数に分岐された光信号L1a〜L1dにそれぞれ相違する偏光及び移相を与えて、各々相違する偏光及び移相を与えられた光信号L2a〜L2dの光成分を光電変換して、当該光電変換された光成分E1〜E4において電気的に演算することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

あらかじめ被測定光信号に対して偏光及び移相等の補償校正を行い、測定対象から出力される被測定光信号を複数に分岐し、当該複数に分岐された各光信号にそれぞれ相違する偏光及び移相を与えて、各々相違する偏光及び移相を与えられた各光信号の光成分を光電変換して、当該光電変換された各光成分において電気的に演算することを特徴とするストークス・パラメータ測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開昭63-103927
特開平2-196930
特表昭63-500056

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