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J-GLOBAL ID：200903096146890752
伸び計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997302400
Publication number (International publication number)：1999142102
Application date： Nov. 05, 1997
Publication date： May. 28, 1999
Summary：
【要約】【課題】 表面特性の異なる材質の試験片の挟持に適合する接触子を交換することなく、簡単、迅速に挟持条件の変更を可能ならしめる。【解決手段】 軟質の材料を試験する場合には、外周に試験片の表面に傷を付けない程度の小さい曲率半径で接触可能な表面形状を備え、ゴムあるいは軟質プラスチックなどで製作された環状の外装接触子2を算盤珠状接触子1に重着させた状態で軟質試験片6Bを挟持することにより試験を行う。一方、硬質の材料を試験する場合には、外縁部分が硬質のナイフエッジ状である算盤珠状接触子1で硬質試験片6Aを挟持することにより試験を行う。
Claim (excerpt)：
負荷を受けて変形する試験片の変位をレバーの先端に配設された接触子で試験片の標点を挟持し追跡する伸び計において、硬質のナイフエッジ接触部を備えた算盤珠状接触子に、外周には試験片の表面に傷を付けない程度の小さい曲率半径で接触可能な表面形状を形成するとともに、内周には算盤珠状接触子の外縁部からの脱落防止と位置決めを行う案内溝を備え、かつ伸び縮み自在の材料で製作された環状形の外装接触子を着脱可能ならしめた接触子を有することを特徴とする伸び計。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)
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レバー式伸び計
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-118478
Applicant：株式会社島津製作所
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