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J-GLOBAL ID：200903096169379869
イオントラップ質量分析方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995077517
Publication number (International publication number)：1996273588
Application date： Apr. 03, 1995
Publication date： Oct. 18, 1996
Summary：
【要約】【目的】 イオントラップ質量分析器に関し、非破壊かつ高感度な測定手段を実現する方法を提供すること。【構成】 イオントラップ電極と、レーザ冷却光発生用レーザ装置、および光検出器からなる。イオントラップ電極に、分析対象イオン(黒丸)とレーザ冷却が可能な検知用イオン(白丸)を同時に蓄積する。このイオン群をレーザ冷却法および協調冷却効果によって冷却し、強い共鳴散乱光を得る。これに分析交流電場を周波数掃引しながら印加し、そのときの共鳴散乱光の強度変化、空間変化を観測することにより質量分析を行う。
Claim (excerpt)：
イオントラップ質量分析のイオン検出法において、電荷質量比が既知である検知用イオンを電荷質量比が未知である分析対象イオンと同時にイオントラップ中に捕捉し、分析対象イオンの電荷質量比に依存した振動を共振させる分析交流電場を印加し分析対象イオンを振動させ、振動する分析対象イオンと検知用イオンのクーロン衝突により、検知用イオンのイオントラップ内での運動を変化せしめ、その運動の変化量を測定することにより分析対象イオンの存在量を検知しながら、分析交流電場の周波数を時間的に変化させて質量スペクトルを得ることを特徴とする質量分析方法。
IPC (3)：
H01J 49/42
, H01J 49/06
, G01N 27/62
H01J 49/42
, H01J 49/06
, G01N 27/62 L
