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J-GLOBAL ID:200903096171182304

情報抽出方法、情報抽出装置およびプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8): 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004189878
Publication number (International publication number):2004333505
Application date: Jun. 28, 2004
Publication date: Nov. 25, 2004
Summary:
【課題】認識すべき動き以外の余分な動きに影響されずに、高精度に認識対象の動きを抽出できる情報抽出装置および方法を提供する。【解決手段】対象物に発光手段により光を照射し、対象物からの反射光を受光手段で受光することにより、各素値が当該受光手段で受光された反射光の強度を示し、各素値が示す反射光の強度により対象物までの距離及び対象物の3次元形状を表す距離画像を取得する距離画像取得手段により取得された、認識対象の対象物の撮像された時系列な複数の距離画像のうちの少なくとも1つの距離画像の各素値を基に、識対象以外の画像である基盤画像を生成し、距離画像取得手段で取得された各距離画像について、基盤画像との間の差分画像を求め、各差分画像の対象物の位置を示す3次元座標から、異なる距離画像間における対象物の位置の変化量及び変化方向を求める。【選択図】 図9
Claim (excerpt):
対象物に発光手段により光を照射し、対象物からの反射光を受光手段で受光することにより、各素値が当該受光手段で受光された反射光の強度を示し、各素値が示す反射光の強度により対象物までの距離及び対象物の3次元形状を表す距離画像を取得する距離画像取得手段が、認識対象の対象物の撮像された、時系列な複数の距離画像を取得する第1のステップと、 前記複数の距離画像のうちの少なくとも1つの距離画像の各素値を基に、前記識対象以外の画像である基盤画像を生成する第2のステップと、 前記第1のステップで取得された各距離画像について、前記基盤画像との間の差分画像を求める第3のステップと、 各差分画像の前記対象物の位置を示す3次元座標から、異なる距離画像間における前記対象物の位置の変化量及び変化方向を求める第4のステップをさらに有することを特徴とする請求項1記載の情報抽出方法。
IPC (4):
G01B11/00 ,  A63F13/06 ,  G06T1/00 ,  G06T7/20
FI (4):
G01B11/00 H ,  A63F13/06 ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/20 B
F-Term (50):
2C001AA16 ,  2C001BB04 ,  2C001BB10 ,  2C001CA00 ,  2C001CA09 ,  2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA17 ,  2F065BB15 ,  2F065CC16 ,  2F065DD04 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG07 ,  2F065GG17 ,  2F065HH02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM02 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR07 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DA06 ,  5B057DB02 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5L096AA09 ,  5L096BA02 ,  5L096CA02 ,  5L096FA02 ,  5L096FA60 ,  5L096FA64 ,  5L096FA66 ,  5L096GA08 ,  5L096GA19 ,  5L096HA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 物体検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-312677   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 3次元計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-274993   Applicant:ミノルタ株式会社
  • 特開平1-153903
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