物理量多点計測システム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：絹谷信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996083503
Publication number (International publication number)：1997273947
Application date： Apr. 05, 1996
Publication date： Oct. 21, 1997
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】光源や受光器のレベル変動に左右されず、かつ距離にも左右されずに計測できる物理量多点計測システムを提供する。【解決手段】多点計測装置1において、光ファイバ2aの一端には光を受光する受光器4が接続されている。さらに、受光器4の後段には受光器4で電気信号に変換された信号の周波数成分を解析する信号処理回路5が接続されている。光式物理量センサ6a,6b,6c...の発振器が物理量に応じた周波数で発振し、光源では出射光が電圧によって光強度変調されるため、物理量の変化が光源光の光強度変調周波数の変化に変換される。物理量の情報が周波数の情報によって伝搬されるので、光源や受光器4のレベル変動、光ファイバ2aの距離による光の減衰には影響されない。

Claim (excerpt)：

受光器を接続した光ファイバを布設し、該光ファイバの複数箇所に分岐部を設けて各分岐部に物理量を検出するためのセンサを取り付けた物理量多点計測システムにおいて、上記センサは、電圧によって光強度変調される光源に上記物理量に応じた周波数で発振する発振器を接続し、上記物理量の変化が光源光の光強度変調周波数の変化に変換されるように構成したことを特徴とする物理量多点計測システム。

IPC (5)：

G01D 21/00 , G01J 1/02 , G01M 3/38 , G01N 21/27 , G08C 15/00

FI (5)：

G01D 21/00 M , G01J 1/02 M , G01M 3/38 E , G01N 21/27 Z , G08C 15/00 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

静電容量式機械量センサ及び機械量検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-117774 Applicant：オムロン株式会社
特開平1-105122
特開昭55-042453

Show all

Return to Previous Page