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J-GLOBAL ID：200903096385936535

被検眼計測装置

Inventor： 畑中英樹
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992124977
Publication number (International publication number)：1993317257
Application date： May. 18, 1992
Publication date： Dec. 03, 1993
Summary：

【要約】【目的】 被検眼の眼内寸法の測定の迅速化、測定精度のより一層の向上を図ることのできる被検眼計測装置を提供する。【構成】 被検眼103にコヒーレント長の短い光束を投光する測定用光源130を備えた投光光学系を有し、前記被検眼103への投光により得られた干渉縞を観察することにより、被検眼103の第1測定対象面から第2測定対象面までの眼内寸法を計測する被検眼計測装置において、前記投光光学系101に被検眼を固視させるための固視用光学系を設け、該固視用光学系の光軸が前記投光光学系101の光軸と同軸であることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被検眼にコヒーレント長の短い光束を投光する測定用光源を備えた投光光学系を有し、前記被検眼への投光により得られた干渉縞を観察することにより、被検眼の第1測定対象面から第2測定対象面までの眼内寸法を計測する被検眼計測装置において、前記投光光学系に被検眼を固視させるための固視用光学系を設け、該固視用光学系の光軸が前記投光光学系の光軸と同軸であることを特徴とする被検眼計測装置。

FI (2)：

A61B 3/10 Z ,  A61B 3/10 R

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平4-035637
  
• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-038583   Applicant：キヤノン株式会社