レーザー捕捉顕微解剖法と装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：中村稔 (外9名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998534945
Publication number (International publication number)：2001526795
Application date： Feb. 05, 1998
Publication date： Dec. 18, 2001
Summary：

【要約】レーザー捕捉顕微解剖のためのシステムと方法を開示する。レーザー捕捉顕微解剖の方法は、レーザー捕捉顕微解剖を受けるサンプルを提供する段階と、前記サンプルをレーザー捕捉顕微解剖器械の光学軸内に配置する段階と、基板表面と前記基板表面に連結されたレーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムを有するトランスファフィルムキャリアを提供する段階と、前記サンプルの残余部分の前記レーザー捕捉顕微解剖フィルムへの不的確な移動を引き起こすことなく、前記サンプルの一部を前記レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムへレーザー捕捉顕微解剖移動させるのに十分な圧力で、前記レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムを前記サンプルと並置する段階と、次に前記サンプルの残余部分の前記レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムへの不的確な移動を引き起こすことなく前記サンプルの一部を前記レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムへ移す段階とを含む。本システム及び方法は、スピードが早くなり、汚染がかなり少なくなるという利点を提供する。

Claim (excerpt)：

サンプルをレーザー捕捉顕微解剖器械の光学軸内に配置する段階と、レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムを前記サンプルと並置する段階と、前記サンプルの一部を前記レーザー捕捉顕微解剖トランスファフィルムに移す段階とから成ることを特徴とするレーザー捕捉顕微解剖法。

IPC (4)：

G02B 21/34 , G01N 1/28 , G02B 21/26 , G02B 21/32

FI (5)：

G02B 21/34 , G02B 21/26 , G02B 21/32 , G01N 1/28 U , G01N 1/28 J

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

蛍光走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-188065 Applicant：工業技術院長, オリンパス光学工業株式会社
特開平1-164911
特開昭63-280210

Show all

Return to Previous Page