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J-GLOBAL ID：200903096595664368

X線異物検出装置

Inventor： 石南 勝
Applicant, Patent owner： 株式会社イシダ
Agent (1)： 福岡 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995292136
Publication number (International publication number)：1997113631
Application date： Oct. 13, 1995
Publication date： May. 02, 1997
Summary：

【要約】【課題】 被検査物品にX線を照射して、その透過状態から該物品への異物の混入の有無を検査するX線異物検出装置において、被検査物品の厚さが一定しなくても、X線の照射量の調整等を要することなく、常に明瞭に異物の有無を識別できるようにする。【解決手段】 操作装置12の入力部12aで被検査物品の品目を指定すれば、制御装置11の記憶部11cからその品目についての照射量設定用データが読み出されると共に、X線の照射に先立って被検査物の厚さが測定器8で測定され、測定した厚さと上記データとから当該被検査物品に照射するX線の照射量が設定されるように構成する。

Claim (excerpt)：

被検査物品にX線を照射するX線照射手段と、該照射手段で被検査物品に照射されたX線の透過状態から該物品に混入した異物を検出する異物検出手段とを有するX線異物検出装置であって、X線の照射量設定用データを被検査物品の品目ごとに予め記憶する記憶手段と、被検査物品の品目を指定して上記記憶手段からその品目についての照射量設定用データを読み出す品目指定手段と、X線の照射に先立って被検査物品の厚さを測定する厚さ測定手段と、該測定手段で測定した厚さと上記記憶手段から読み出した照射量設定用データとを用いて当該被検査物品に照射するX線の照射量を設定する照射量設定手段と、該設定手段で設定した照射量でX線を照射するように上記X線照射手段を制御する制御手段とを有することを特徴とするX線異物検出装置。

IPC (2)：

G01V 5/00 ,  G01N 23/04

FI (2)：

G01V 5/00 A ,  G01N 23/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平3-246485
  
• 特開平2-208546
  
• X線装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-202836   Applicant：理学電機株式会社
• 特開平3-246485
  
• 特開平2-208546