Pat
J-GLOBAL ID:200903096895436332

成分濃度測定装置及び成分濃度測定装置制御方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 賢治
Gazette classification:再公表公報
Application number (International application number):JP2005008309
Publication number (International publication number):WO2005107592
Application date: May. 02, 2005
Publication date: Nov. 17, 2005
Summary:
本発明は、光音響信号検出器の感度特性の変化を追尾して、常に感度の高い周波数で測定することにより、正確な測定が可能な非侵襲な成分濃度測定装置および成分濃度測定装置制御方法を提供することを目的とする。 本発明に係る成分濃度測定装置は、異なる波長の2波の光を発生する光発生手段と、該異なる波長の2波の光の各々を同一周波数で逆位相の信号により電気的に強度変調する光変調手段と、強度変調された該異なる波長の2波の光を被検体に向けて出射する光出射手段と、出射された光により被検体内に発生する音波を検出する音波検出手段と、を備えることを特徴とする。
Claim (excerpt):
光を発生する光発生手段と、 前記光発生手段が発生する光を変調する変調周波数を掃引する周波数掃引手段と、 前記周波数掃引手段からの信号により前記光発生手段で発生した光を電気的に強度変調する光変調手段と、 前記強度変調された光を被測定物に向けて出射する光出射手段と、 前記出射された光により被測定物内に発生する音波を検出する音波検出手段と、 前記音波検出手段が検出した音波を掃引された変調周波数範囲で積算する積算手段と、 を備えたことを特徴とする成分濃度測定装置。
IPC (1):
A61B 5/145
FI (1):
A61B5/14 310
F-Term (3):
4C038KK10 ,  4C038KL00 ,  4C038KL05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)

Return to Previous Page