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J-GLOBAL ID：200903097315691876

ひずみ分布測定方法

Inventor： 大野 博重 ,  野引 敦 ,  倉嶋 利雄 ,  成瀬 央
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998053919
Publication number (International publication number)：1999248558
Application date： Mar. 05, 1998
Publication date： Sep. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】 クラックの発生に関わらず試験部材のひずみを測定することができ、試験部材全体に亘るひずみ分布を容易に求める。【解決手段】 試験部材(梁1)の表面に、試験部材(梁1)よりも降伏応力が高くかつ光ファイバ2よりも弾性率の小さい緩衝部材を介して光ファイバ2を固定し、この光ファイバ2のひずみ分布に基づいて試験部材(梁1)のひずみ分布を求める。

Claim (excerpt)：

試験部材の表面に、前記試験部材よりも降伏応力が高くかつ光ファイバよりも弾性率の小さい緩衝部材を介して前記光ファイバを固定し、この光ファイバのひずみ分布に基づいて前記試験部材のひずみ分布を求めることを特徴とするひずみ分布測定方法。

IPC (3)：

G01L 1/24 ,  G01M 11/00 ,  G02B 6/00

FI (3)：

G01L 1/24 ,  G01M 11/00 U ,  G02B 6/00 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• ファイバ光学的ひずみセンサおよびその製造
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平7-523983   Applicant：テレフオンアクチーボラゲツトエルエムエリクソン
• 特開平4-138307
  
• 光ファイバ心線及び該ファイバ心線を用いる圧力センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-293725   Applicant：協和電線株式会社, 古河電気工業株式会社
• 特開平4-248426