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J-GLOBAL ID:200903097422430244
X線画像撮影方法及びその撮影装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000214098
Publication number (International publication number):2001091479
Application date: Jul. 14, 2000
Publication date: Apr. 06, 2001
Summary:
【要約】【課題】医療や検査等の現場での実用性に欠けた従来のX線画像形成の方法及びその装置に対して、広く実用可能な屈折コントラストX線画像を得ることができる。【解決手段】X線画像撮影方法及びその撮影装置は、半影により生ずる鮮鋭性の低下を、屈折コントラスト強調により高めるものであり、また、X線管1の焦点サイズ(Dμm)が30μmより大きく、X線管1から被写体2までの距離R1はR1≧(D-7)/200(m)の式の範囲であり、且つ被写体2からX線検出器3までの距離R2が0.15m以上として、X線画像を撮影するものである。
Claim (excerpt):
X線管から照射され、被写体を透過したX線画像をX線検出器で検出するX線画像撮影方法であって、半影によって低下する鮮鋭性を、屈折コントラスト強調による画像エッジ強調によって高めることを特徴とするX線画像撮影方法。
IPC (3):
G01N 23/04
, A61B 6/00 300
, A61B 6/00 330
FI (3):
G01N 23/04
, A61B 6/00 300 B
, A61B 6/00 330 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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目標物を撮像する際に使用する方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-310916
Applicant:プランメドオイ
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密度測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-056341
Applicant:新日本製鐵株式会社
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特開平1-080346
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硬X線による位相差イメージ法のための簡素化された条件および構成
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-528711
Applicant:コモンウェルス・サイエンティフィック・アンド・インダストリアル・リサーチ・オーガニゼイション
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Article cited by the Patent: