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J-GLOBAL ID：200903097478691628

陽電子を用いた材料評価装置及び評価方法

Inventor： 白井 泰治 ,  荒木 秀樹
Applicant, Patent owner： 大阪大学長
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999248524
Publication number (International publication number)：2001074673
Application date： Sep. 02, 1999
Publication date： Mar. 23, 2001
Summary：

【要約】【課題】 陽電子線源と被測定材料とを隔離させた場合においても、高いS/N比と時間分解能を有し、比較的短時間で前記被測定材料の結晶性の評価を正確に行うことが可能な陽電子を用いた材料評価装置及び材料評価方法を提供する。【解決手段】 本発明の材料評価装置10は、陽電子線源1と、電磁レンズ3と、陽電子検出器5と、第1及び第2のγ線検出器7-1及び7-2とを具える。そして、陽電子線源1から放出された陽電子は、電磁レンズ3が発生する磁場によって被測定材料6の方向に集束させられる。また、真空容器2中は排気口8を通じて真空排気されており、これにより陽電子線源1から被測定材料6までの陽電子飛翔経路が真空に保持される。陽電子の寿命は、陽電子が陽電子検出器5を通過してから被測定材料6から放出されるγ線をγ線検出器7-1及び7-2が検出するまでの時間から計測する。

Claim (excerpt)：

陽電子を被測定材料に入射し、前記陽電子の寿命を測定することにより、前記被測定材料の結晶性を評価する材料評価装置であって、前記材料評価装置は、陽電子線源と、電磁レンズと、陽電子検出器と、γ線検出器とを具え、前記陽電子線源は前記電磁レンズの磁場内に設置されるとともに前記被測定材料から隔離して設置され、前記陽電子検出器は前記陽電子線源と前記被測定材料との間に設置されるとともに、前記陽電子線源から前記被測定材料までの陽電子飛翔経路が真空に保持されていることを特徴とする、材料評価装置。

F-Term (17)：

2G001AA03 ,  2G001CA02 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001GA10 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001JA02 ,  2G001JA14 ,  2G001KA03 ,  2G001KA08 ,  2G001LA01 ,  2G001LA11 ,  2G001PA07 ,  2G001RA03 ,  2G001SA12