Pat
J-GLOBAL ID:200903097573186965
半導体装置とその製造方法、及び半導体装置の評価方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岡本 啓三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004187053
Publication number (International publication number):2006013082
Application date: Jun. 24, 2004
Publication date: Jan. 12, 2006
Summary:
【課題】 チャネルに応力が印加されるMOSトランジスタの特性のばらつきを防ぐことができる半導体装置とその製造方法を提供すること、及び、MOSトランジスタのチャネルにおけるキャリア分布を直接測定することができる半導体装置の評価方法を提供すること。【解決手段】 シリコン(半導体)基板10と、シリコン基板10の上に順に形成されたゲート絶縁膜13及びゲート電極14cと、ゲート電極14cの横のシリコン基板10のリセス(穴)10a、10bに形成されたソース/ドレイン材料層18a、18bと、を有し、リセス10a、10bのゲート電極14c寄りの側面10c、10dが、シリコン基板10の少なくとも一つの結晶面で構成されることを特徴とする半導体装置による。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
半導体基板と、
前記半導体基板の上に順に形成されたゲート絶縁膜及びゲート電極と、
前記ゲート電極の横の前記半導体基板の穴に形成されたソース/ドレイン材料層と、
を有し、
前記穴の前記ゲート電極寄りの側面が、前記半導体基板の少なくとも一つの結晶面で構成されることを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
H01L 29/78
, H01L 29/786
, H01L 21/336
FI (4):
H01L29/78 301S
, H01L29/78 616L
, H01L29/78 616V
, H01L29/78 616T
F-Term (98):
5F110AA01
, 5F110AA30
, 5F110BB04
, 5F110CC02
, 5F110DD05
, 5F110DD13
, 5F110EE02
, 5F110EE05
, 5F110EE09
, 5F110EE14
, 5F110EE32
, 5F110EE45
, 5F110FF02
, 5F110FF07
, 5F110FF23
, 5F110GG02
, 5F110GG12
, 5F110GG17
, 5F110HJ01
, 5F110HJ04
, 5F110HJ14
, 5F110HJ23
, 5F110HK02
, 5F110HK05
, 5F110HK08
, 5F110HK21
, 5F110HK25
, 5F110HK27
, 5F110HK32
, 5F110HK33
, 5F110HK40
, 5F110HK42
, 5F110HL01
, 5F110HL04
, 5F110HL23
, 5F110HL24
, 5F110HM02
, 5F110HM15
, 5F110NN03
, 5F110NN23
, 5F110NN24
, 5F110NN35
, 5F110NN62
, 5F110QQ04
, 5F110QQ11
, 5F110QQ19
, 5F140AA05
, 5F140AB03
, 5F140AC01
, 5F140AC28
, 5F140BA01
, 5F140BA20
, 5F140BD17
, 5F140BE07
, 5F140BF01
, 5F140BF04
, 5F140BF08
, 5F140BF11
, 5F140BF18
, 5F140BG08
, 5F140BG09
, 5F140BG12
, 5F140BG14
, 5F140BG32
, 5F140BG34
, 5F140BG45
, 5F140BG52
, 5F140BG53
, 5F140BH05
, 5F140BH06
, 5F140BH07
, 5F140BH14
, 5F140BH21
, 5F140BH27
, 5F140BH35
, 5F140BJ08
, 5F140BJ11
, 5F140BJ17
, 5F140BJ20
, 5F140BJ27
, 5F140BK02
, 5F140BK13
, 5F140BK14
, 5F140BK18
, 5F140BK21
, 5F140BK26
, 5F140BK29
, 5F140BK30
, 5F140BK34
, 5F140BK39
, 5F140CB04
, 5F140CB08
, 5F140CC01
, 5F140CC03
, 5F140CC08
, 5F140CC13
, 5F140CE07
, 5F140CF04
Patent cited by the Patent: