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J-GLOBAL ID:200903097843180131

光導波路型SPR現象測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 雨宮 正季
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000355354
Publication number (International publication number):2002162346
Application date: Nov. 22, 2000
Publication date: Jun. 07, 2002
Summary:
【要約】【課題】光導波路作製技術を用いて、小型で交換の便利なSPR現象計測チップを提供し、このSPR現象計測チップに光源、光計測器を簡便な方法により接続したSPR現象測定装置を提供する。【解決手段】光導波路と、前記光導波路のコアに少なくとも一部が直接接触する金属薄膜を光導波路型SPR現象計測チップ16と、光を入射するための光源21と、出射された光を計測するための光計測器22とを有する。【効果】光導波路作製技術を用いれば、導波路コアを一つのチップ上に多数作製したり、途中で分岐したり、回折格子を設けたりと様々な機能を持たせることができ、それらのSPR現象計測チップを安価で多量に作製することが可能であるで、種々のSPR現象測定装置を安価に、容易に製造可能である。
Claim (excerpt):
コアと前記コアの周囲に設けられたクラッドとを備え、前記コアは前記クラッドより高い屈折率を有し、前記コアに入射した光を閉じ込めて伝播する光導波路と、前記コアに少なくとも一部が直接接触し、かつ表面プラズモン共鳴現象を起こす金属薄膜であって、前記コアを伝播する光を計測することによって表面プラズモン共鳴現象を測定される試料が接触するように設けられる前記金属薄膜とを備えた光導波路型SPR現象計測チップと、光を入射するための光源と、出射された光を計測するための光計測器と、前記光源と前記光導波路型SPR現象計測チップの光導波路と前記光計測器とを光学接続するための光学接続手段を有することを特徴とする光導波路型SPR現象測定装置。
IPC (5):
G01N 21/27 ,  G01N 21/05 ,  G02B 1/10 ,  G02B 5/18 ,  G02B 6/12
FI (5):
G01N 21/27 C ,  G01N 21/05 ,  G02B 5/18 ,  G02B 1/10 Z ,  G02B 6/12 Z
F-Term (33):
2G057AA12 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BA05 ,  2G057BC07 ,  2G057CB03 ,  2G057DA11 ,  2G057DB03 ,  2G057DC06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB13 ,  2G059CC17 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ30 ,  2H047KA03 ,  2H047KA11 ,  2H047QA07 ,  2H047RA01 ,  2H049AA06 ,  2H049AA37 ,  2H049AA55 ,  2H049AA62 ,  2K009BB02 ,  2K009BB11 ,  2K009CC14 ,  2K009DD04 ,  2K009EE00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
  • SPRセンサセル及びこれを用いた免疫反応測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-205864   Applicant:スズキ株式会社
  • 表面プラズモン共鳴センサ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-063575   Applicant:東陶機器株式会社
  • 光軸調整方法及び装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-317849   Applicant:日本電信電話株式会社
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