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J-GLOBAL ID:200903097969050101
物体入力装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
蔦田 璋子 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993045256
Publication number (International publication number):1994258048
Application date: Mar. 05, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 観測空間内に被観測物体を配し、該被観測物体の3次元形状情報等を取り込む物体入力装置において、従来の物体入力装置における欠測点への対応不十分、不要情報の排除における繁雑さ、不可視部分の存在などの問題を解決し、より利便性の向上した物体入力装置を提供することである。【構成】 前記観測空間内の空間情報である距離分布と質感分布と背景分布のうち少なくとも背景分布が計測可能な観測手段1と、該空間情報から被観測物体に関する物体情報として少なくとも前記被観測物体の3次元形状情報を構築する演算手段2とよりなり、前記観測手段が、前記被観測物体を支持するための支持手段を具備し、かつ、該支持手段が前記観測手段に対して不可視となるような材質または構造で構成される。
Claim (excerpt):
観測空間内に被観測物体を配し、該被観測物体の3次元形状情報等を取り込む物体入力装置であって、前記観測空間内の空間情報である距離分布と質感分布と背景分布のうち少なくとも背景分布が計測可能な観測手段と、該空間情報から被観測物体に関する物体情報として少なくとも前記被観測物体の3次元形状情報を構築する演算手段とよりなり、前記観測手段が、前記被観測物体を支持するための支持手段を具備し、かつ、該支持手段が前記観測手段に対して不可視となるような材質または構造で構成されることを特徴とする物体入力装置。
IPC (3):
G01B 11/24
, G06F 15/62 415
, G06F 15/64
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開平2-217969
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特開平4-180385
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特開平2-223809
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光学式形状測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-207936
Applicant:株式会社アイ・エヌ・アール研究所
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特開平4-151988
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特開昭60-221872
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