Pat
J-GLOBAL ID:200903098088684813
粒子センサーおよびそれに関連する改良された粒子識別方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岡部 正夫 (外13名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998334057
Publication number (International publication number):1999258145
Application date: Nov. 25, 1998
Publication date: Sep. 24, 1999
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】正確に粒子を数え、サイズを判定する新規な粒子センサーを提供する。【解決手段】粒子センサー10は入口23、検知容積、排出口25およびミラー39のごとき集光系を有する。本センサー10は集光系に接続された電子システムをも有する。本電子システムはいくつかのユニークな方法のいずれかでサイズによって粒子をカウントするようプログラムされている。各実施例に対応して、本方法およびセンサー10は浮浪粒子、偽ピークなどをカウントしてしまうのを回避するのに役立つ向上された識別を可能にする。
Claim (excerpt):
下記工程を包含する、粒子センサーを通って流れる粒子をサイズ範囲別に計数するための方法:センサー内の検知キャビティーを通じて光の定常ビームを投射し;複数の粒子サイズ範囲を、粒子サイズと対応する電圧との電算化テーブルの中に設定しておき;粒子を該光ビームを通過して流し;ある不定の時間期間にわたって1つの電圧パルスに沿った複数の電圧値をサンプリングし、その複数の電圧値は最新の電圧値と該最新の電圧値に先行する電圧値を含むものであり;該最新値と該先行値とを比較し;サンプリングされた最新値がサンプリングされた先行値より小さいと判定された時に、上記表の中で、その粒子に対するサイズ範囲を見つけ出し;および該粒子のサイズ範囲に対応するカウントビンをインクレメントする。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
-
特開平1-216232
-
特開昭63-149541
-
特開昭61-107137
-
特開昭58-131538
-
特開昭57-186150
-
濁度の測定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-058501
Applicant:富士電機株式会社
-
パルス信号測定装置および測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-248913
Applicant:株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
-
特開昭63-029267
Show all
Return to Previous Page