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J-GLOBAL ID:200903098241877502

親水性複合材

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998350444
Publication number (International publication number):2000135755
Application date: Dec. 09, 1998
Publication date: May. 16, 2000
Summary:
【要約】【課題】 耐久性に優れ、高度な親水性を有し、水のある環境下にて好適に使用できる防曇性、防露性、防汚性、自己浄化性の優れた複合材を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明は、基材表面の任意の位置における凹凸の平均高さおよび平均幅が、0.4nm以上200nm以下、中心線平均表面粗さRaが0.1nm以上50nm以下である凹凸構造を形成したことを特徴とする親水性複合材である。
Claim (excerpt):
親水性表面を備えた複合材であって、原子間力顕微鏡で測定した基材表面の任意の位置における凹凸の平均高さおよび平均幅が、0.4nm以上200nm以下であり、中心線平均表面粗さRaが0.1nm以上50nm以下である凹凸構造を有する基材を備えていることを特徴とする親水性複合材。
IPC (7):
B32B 9/00 ,  B01J 19/00 ,  B01J 35/02 ,  C09D 1/00 ,  C09K 3/00 112 ,  C09K 3/18 ,  C23C 14/08
FI (7):
B32B 9/00 A ,  B01J 19/00 K ,  B01J 35/02 J ,  C09D 1/00 ,  C09K 3/00 112 Z ,  C09K 3/18 ,  C23C 14/08 Z
F-Term (85):
4F100AA17B ,  4F100AA19B ,  4F100AA20B ,  4F100AA21B ,  4F100AA21H ,  4F100AA25B ,  4F100AA25H ,  4F100AA27B ,  4F100AA27H ,  4F100AA28B ,  4F100AA28H ,  4F100AG00 ,  4F100AR00B ,  4F100AT00A ,  4F100BA02 ,  4F100CA30B ,  4F100DD01A ,  4F100DD07A ,  4F100EH46B ,  4F100EH66B ,  4F100EJ15A ,  4F100GB08 ,  4F100GB48 ,  4F100GB71 ,  4F100GB76 ,  4F100GB81 ,  4F100JB05 ,  4F100JB05B ,  4F100JL00 ,  4F100JL06 ,  4F100JL07 ,  4F100YY00A ,  4G069AA03 ,  4G069BA01A ,  4G069BA01B ,  4G069BA02A ,  4G069BA02B ,  4G069BA04A ,  4G069BA04B ,  4G069BA05A ,  4G069BA05B ,  4G069BA48A ,  4G069BB04A ,  4G069BC22A ,  4G069BC35A ,  4G069CA01 ,  4G069CA07 ,  4G069CA11 ,  4G069DA05 ,  4G069EB01 ,  4G069FB23 ,  4G075AA24 ,  4G075AA30 ,  4G075BC01 ,  4G075BC02 ,  4G075BC04 ,  4G075BC06 ,  4G075CA02 ,  4G075CA65 ,  4H020AA01 ,  4H020AB02 ,  4J038AA011 ,  4J038HA211 ,  4J038HA216 ,  4J038HA441 ,  4J038NA06 ,  4J038PB05 ,  4J038PB07 ,  4J038PB08 ,  4J038PC03 ,  4K029AA04 ,  4K029AA07 ,  4K029AA08 ,  4K029AA09 ,  4K029AA24 ,  4K029AA26 ,  4K029BA43 ,  4K029BA44 ,  4K029BA46 ,  4K029BA47 ,  4K029BA48 ,  4K029BA49 ,  4K029BD06 ,  4K029BD09 ,  4K029CA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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