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J-GLOBAL ID:200903098279009296

多分析対象物測定のためのキット及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 津国 肇 ,  篠田 文雄
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002501026
Publication number (International publication number):2004510130
Application date: May. 25, 2001
Publication date: Apr. 02, 2004
Summary:
複数の分析対象物の同時定性及び/又は定量測定のための、少なくとも一つの励起波長で透明である層(a)を、少なくとも同じ励起波長で同じく透明である、層(a)よりも低い屈折率を有する層(b)の上に有し、層(a)中で変調される少なくとも一つの格子構造(c)を有する薄層光学導波路からなるセンサプラットフォームを、直接又は付着促進層を介して層(a)に固定化され、別個の計測区域(d)に配置された生化学的又は合成検出要素の少なくとも一つのアレイとともに含むキットの種々の実施態様に関する。前記検出要素は、前記分析対象物の特異的認識及び/又は結合、及び/又はそれとの特異的相互作用に使用される。本発明のキットは、また、計測区域に存在する励起光強さの局所分解参照のための手段を、場合によっては、一つ又はいくつかの分析対象物の間の結合の結果として、又は一つ又はいくつか分析対象物との特異的相互作用の結果として、層(a)の近場で生成される少なくとも一つのルミネセンスを較正するための手段とともに含む。分析対象物が分析される液体試料は、センサプラットフォーム上の計測区域と直接又は他の試薬との混合ののち接触させられる。本発明はまた、本発明のキットに基づく分析システム、一又はいくつかの分析対象物を検出するために実施される方法及びその使用に関する。
Claim (excerpt):
多種の分析対象物の同時定性測定及び/又は定量測定のためのキットであって、 少なくとも一つの励起波長で透明な層(a)を、少なくとも前記励起波長で同じく透明である、層(a)よりも低い屈折率の層(b)の上に有し、かつ、前記励起光を層(a)に内結合するための、前記層(a)中で変調される少なくとも一つの格子構造(c)を有する光学薄膜導波路を含むセンサプラットフォームと、 前記分析対象物の特異的認識及び/又は結合のための、及び/又は前記分析対象物との特異的相互作用のための、別個の計測区域(d)に直接又は層(a)上の付着促進層を介して固定化された生物学的又は生化学的又は合成認識要素の少なくとも一つのアレイと、 計測区域で利用可能な励起光強さの横方向分解参照のための手段と、場合によっては、 一以上の分析対象物の結合の結果として又は一以上の分析対象物との特異的相互作用の結果として、層(a)の近場で生成される一以上のルミネセンスの較正のための手段と、 を含み、 前記分析対象物に関して分析される液体試料が、前記センサプラットフォーム上の前記計測区域と直接又はさらなる試薬との混合ののち接触させられるキット。
IPC (7):
G01N33/53 ,  G01N21/64 ,  G01N21/76 ,  G01N33/15 ,  G01N33/543 ,  G01N33/569 ,  G01N37/00
FI (7):
G01N33/53 M ,  G01N21/64 F ,  G01N21/76 ,  G01N33/15 Z ,  G01N33/543 597 ,  G01N33/569 A ,  G01N37/00 102
F-Term (31):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043JA05 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA13 ,  2G054AA06 ,  2G054AA08 ,  2G054CA20 ,  2G054CA21 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054CA28 ,  2G054CE02 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054FA08 ,  2G054FA16 ,  2G054FA18 ,  2G054FA19 ,  2G054FA20 ,  2G054GA04 ,  2G054JA08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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