物性測定用プローブ

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：村瀬一美 , 井口恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002316770
Publication number (International publication number)：2004150960
Application date： Oct. 30, 2002
Publication date： May. 27, 2004
Summary：

【課題】被測定物表面の凹凸の有無にかかわらず複素誘電率の測定を正確に行う。また、被測定物に適した電気長に調整可能とする。【解決手段】物性測定用プローブ31は、被測定物の複素誘電率を測定して当該測定された複素誘電率に基づいて被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装置に用いられるものであり、芯線状の内部電極311と該内部電極311を中心軸として同軸状に配された外部電極312とを有し、内部電極311の軸方向に対して斜めとなるように端面313が形成されている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被測定物の複素誘電率を測定して当該測定された複素誘電率に基づいて前記被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装置に用いられ、芯線状の内部電極と該内部電極を中心軸として同軸状に配された外部電極とを有する物性測定用プローブにおいて、前記内部電極の軸方向に対して斜めとなるように端面を形成したことを特徴とする物性測定用プローブ。

IPC (2)：

G01N22/00 , G01N22/04

FI (4)：

G01N22/00 F , G01N22/00 S , G01N22/00 Y , G01N22/04 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特許第2740528号
誘電緩和測定用電極
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-329607 Applicant：花王株式会社
誘電緩和測定用マルチプローブ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-313133 Applicant：花王株式会社

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