企業評価装置、企業評価システムおよび企業評価プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：志賀正武 , 青山正和 , 村山靖彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004171002
Publication number (International publication number)：2005352637
Application date： Jun. 09, 2004
Publication date： Dec. 22, 2005
Summary：

【課題】企業の特徴を表している指標から算出される企業間の特徴類似性分析により、企業群の全体傾向を容易に把握する。【解決手段】指標算出部4は、企業の特徴を表す、分析対象とする複数年度分の指標を、財務情報5や企業情報6などから複数選択する。特徴抽出部7は、企業に対し、分析対象とする指標を複数年度分選択し、自己相関行列に基づく、各企業の年度間差分の特徴を表す部分空間を算出する。原指標関連度算出部8は、原指標の基底ベクトルと上記部分空間とのなす角度(正準角)を求める。類似度算出部9は、全ての企業の組み合わせに対して、企業間の部分空間のなす角度(正準角)を算出する。類似度マップ表示部16は、企業間類似度に従って、多次元尺度法により、2次元上の座標を算出してマップを描画する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

企業の特徴を表している複数の指標情報を抽出する指標抽出手段と、前記複数の指標情報を用いて、自己相関行列に基づいて企業毎のベクトル空間を算出するベクトル空間算出手段と、前記企業同士のベクトル空間のなす角度を、企業間の類似度として算出する類似度算出手段とを具備することを特徴とする企業評価装置。

IPC (1)：

G06F17/60

FI (2)：

G06F17/60 174 , G06F17/60 166

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

財務分析システム、財務分析方法、そのコンピュータ・プログラムを記録した記録媒体及びコンピュータ・プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-157741 Applicant：セイコーエプソン株式会社

Cited by examiner (1)

情報分類方法、装置及びシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-329934 Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・データ

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

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