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J-GLOBAL ID：200903098586372373

放射能汚染検査装置

Inventor：
池上 和律

About 池上 和律

, 
西沢 博志

About 西沢 博志


Applicant, Patent owner：
三菱電機株式会社

About 三菱電機株式会社


Agent (4)： 大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006162337
Publication number (International publication number)：2007333419
Application date： Jun. 12, 2006
Publication date： Dec. 27, 2007
Summary：
【課題】被検査構造物の表面の放射能汚染の計測、被検査構造物の内部からサンプル測定試料の放射能汚染の計測の双方を的確に行え、しかもクリアランス合否判別も行える具体的な構成の放射能汚染検査装置を実現する。【解決手段】被検査構造物8の検査領域へ走行する検査台車5c上に可移動に搭載され被検査構造物の表面の放射能汚染を計測する表面汚染検出センサ1、検査台車上に可移動に搭載され被検査構造物の内部から測定試料をサンプルするサンプリング手段3、検査台車上に搭載されサンプリング手段によってサンプルされた測定試料から被検査構造物の材料内部の放射能汚染を計測する放射能汚染量を測定する放射能濃度測定部18、及び検査台車上に搭載され表面汚染検出センサによる測定結果および放射能濃度測定部による測定結果からクリアランス合否を出力するクリアランス合否判定部5,ST12を備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被検査構造物の表面および被検査構造物の材料内部の放射能による汚染を計測し放射能汚染のレベルを判定する放射能汚染検査装置であって、 前記被検査構造物の検査領域へ走行する検査台車、 この検査台車上に前記検査台車に対して可移動に搭載され前記被検査構造物の表面の放射能汚染を計測する表面汚染検出センサ、 前記検査台車上に前記検査台車に対して可移動に搭載され前記被検査構造物の内部から測定試料をサンプルするサンプリング手段、 前記検査台車上に搭載され前記サンプリング手段によってサンプルされた測定試料から被検査構造物の材料内部の放射能汚染を計測する放射能汚染量を測定する放射能濃度測定部、 及び前記検査台車上に搭載され前記表面汚染検出センサによる測定結果および前記放射能濃度測定部による測定結果からクリアランス合否を出力するクリアランス合否判定部 を備えた放射能汚染検査装置。
IPC (3)：
G01T 7/02 ,  G01T 1/167 ,  G01T 1/169
FI (3)：
G01T7/02 Z ,  G01T1/167 C ,  G01T1/169 A
F-Term (22)：
2G088EE07 ,  2G088EE11 ,  2G088EE17 ,  2G088EE21 ,  2G088EE23 ,  2G088EE25 ,  2G088EE30 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088FF06 ,  2G088FF18 ,  2G088GG01 ,  2G088GG15 ,  2G088HH01 ,  2G088HH07 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ22 ,  2G088JJ23 ,  2G088JJ24 ,  2G088JJ37 ,  2G088KK24
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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