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J-GLOBAL ID:200903098911233431
X線撮影方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉谷 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005246401
Publication number (International publication number):2007054528
Application date: Aug. 26, 2005
Publication date: Mar. 08, 2007
Summary:
【課題】 合理的な改良により、フラットパネル型X線検出器の限界分解能を超えて、その画素より微細な構造に対して良好に画像化できるようにする。【解決手段】 フィラメント切換機構により、X線管1を通常焦点からX線を照射する状態にするとともに、グリッド18を作用位置に変位させた状態にし、かつ、C型アームを低位置に位置させ、関心領域までのカテーテル操作を行う。カテーテルが関心部位に到達した後に、フィラメント切換機構により、X線管1を微小焦点からX線を照射する状態にするとともに、グリッド18を非作用位置に変位させた状態にし、かつ、C型アームを高位置に上昇させ、被写体HとX線管1との距離に対する被写体Hとフラットパネル型X線検出器2との距離を1:2程度に拡大するX線拡大撮影(拡大率約3倍)を行う。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
X線管により被写体にX線を照射し、被写体を透過したX線をX線検出器によって検出するX線撮影方法であって、X線検出器としてCdTeまたはCdZnTeを主材料とした高感度直接変換型のフラットパネル型X線検出器を用い、かつ、関心部位に到達した状態で、前記X線管により微小焦点から被写体にX線を照射するとともに、被写体と前記X線管との距離に対する被写体と前記フラットパネル型X線検出器との距離を拡大するX線拡大撮影を行うことを特徴とするX線撮影方法。
IPC (2):
FI (6):
A61B6/00 320Z
, A61B6/00 300D
, A61B6/00 300X
, A61B6/00 310
, A61B6/00 331E
, A61B6/06 333
F-Term (18):
4C093AA08
, 4C093AA14
, 4C093AA24
, 4C093CA02
, 4C093DA02
, 4C093EA03
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093EB24
, 4C093EB26
, 4C093EC04
, 4C093EC16
, 4C093EC21
, 4C093EC36
, 4C093FA13
, 4C093FA15
, 4C093FA42
, 4C093FA53
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-130192
Applicant:株式会社島津製作所
Cited by examiner (5)
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X線診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-335983
Applicant:東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
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特開昭57-164042
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特開昭58-195545
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特開昭52-096879
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X線透視撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-279469
Applicant:株式会社島津製作所
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