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J-GLOBAL ID：200903099026092320

階層的記憶システム用のデータ破損試験方法

Inventor：
ブライアン・エル・パターソン

About ブライアン・エル・パターソン


Applicant, Patent owner：
ヒューレット・パッカード・カンパニー

About ヒューレット・パッカード・カンパニー


Agent (1)： 上野 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001014113
Publication number (International publication number)：2001265536
Application date： Jan. 23, 2001
Publication date： Sep. 28, 2001
Summary：
【要約】【課題】データ記憶システムにおいて、データの破損を効率良く検出し、かつ再生して、データ記憶システムの信頼性を向上させるデータ破損試験方法及びそのデータ破損試験方法を組み込んだデータ記憶システムを提供する。【解決手段】本発明の一実施例によれば、コントローラおよびディスクアレイを有する記憶システムであって、ディスクアレイは少なくとも第1および第2記憶領域を有し、第1の記憶領域は第1の平均故障時間(MTTF)に関連し、第2の記憶領域は第2のMTTTFと関連し、コントローラは第1の頻度で第1の記憶領域を試験し、第2の頻度で第2の記憶領域を試験する、記憶システムが提供される。第1および第2の頻度は記憶システムの全体的な信頼性を最適化するよう、それぞれ第1および第2のMTTF基づいている。
Claim (excerpt)：
データの破損に関してデータ記憶システムを試験する方法であって、前記システムは、第1の平均故障時間(MTTF)に関連する第1のデータ記憶領域と、第2のMTTFに関連する第2のデータ記憶領域とを備え、前記方法は、(a)第1の長さの時間の間に前記第1の記憶領域を試験するステップと、(b)第2の長さの時間の間に前記第2の記憶領域を試験するステップと、を備えて成り、(c)前記第1の長さの時間は、少なくとも前記第1のMTTFに基づいている、ことを特徴とする方法。
IPC (3)：
G06F 3/06 304 ,  G06F 3/06 540 ,  G06F 12/16 330
FI (3)：
G06F 3/06 304 R ,  G06F 3/06 540 ,  G06F 12/16 330 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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