測距装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994091558
Publication number (International publication number)：1995294248
Application date： Apr. 28, 1994
Publication date： Nov. 10, 1995
Summary：

【要約】【目的】素子間バラツキに起因する測定精度の低下や温度依存性を改善すると共に簡素な構成の測距装置を提供する。【構成】受光素子200の出力端子で平均背景光の寄与分の電流を除去した後、積分回路310、320と容量素子による電荷結合によって背景光の変化分等の成分をキャンセルすることで、特定対象の光成分のみを得るので、積分器を一個ですませ、さらに複雑な加算、減算等の演算回路を全く同じであるが、さらに複雑な加算、減算等の演算回路を全く必要とせずに、高精度の測距が可能となる。

Claim (excerpt)：

測距対象物に投光する光束を発生する発光器と、前記測距対象物からの反射光を受光して光電変換し、反射光の受光位置に応じて、第1の端子から第1の電流信号を、第2の端子から第2の電流信号を出力する受光素子と、外部からの積分指示により、前記発光器から投光前の所定時間および前記発光器から投光後の前記所定時間に亘って前記受光素子の前記第1の端子から出力された電流信号を入力し、入出力端子間に接続された第1の容量素子に積分する第1の積分回路と、外部からの除去指示により、前記受光素子の前記第1の端子から出力される電流信号から背景光の寄与分の平均値を除去する第1の除去回路と、外部からの減算指示により、前記第1の積分回路から出力された投光前の第1の積分結果を入力して保持するとともに、前記第1の積分回路から出力された投光後の積分結果と保持した前記第1の積分結果との差を演算する第1の差分演算回路と、外部からの前記積分指示により、前記発光器から投光前の前記所定時間および前記発光器から投光後の前記所定時間に亘って前記第2の端子から出力された電流信号を入力し、入出力端子間に接続された第2の容量素子に積分する第2の積分回路と、外部からの前記除去指示により、前記受光素子の第2の端子から出力される電流信号から背景光の寄与分の平均値を除去する第2の除去回路と、外部からの前記減算指示により、前記第2の積分回路から出力された投光前の第2の積分結果を入力して保持するとともに、前記第2の積分回路から出力された投光後の積分結果と保持した前記第2の積分結果との差を演算する第2の差分演算回路と、前記第1の差分演算回路からの出力信号と前記第2の差分演算回路からの出力信号とを入力し、測距演算を行う測距演算回路と、前記発光器に対しては発光指示を、前記第1の積分回路と前記第2の積分回路とに対して積分演算動作を指定する前記積分指示の信号を、前記第1の背景光除去回路と前記第2の背景光除去回路とに対して平均背景光分の電流を除去を指示する前記除去指示の信号を、および前記第1の差分演算回路と前記第2の差分演算回路とに対して減算演算動作を指定する前記減算指示の信号を発行するタイミング発生回路と、を備えることを特徴とする測距装置。

IPC (5)：

G01C 3/06 , G01B 11/00 , G01S 17/08 , G02B 7/32 , G03B 13/36

FI (2)：

G02B 7/11 B , G03B 3/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-030626 Applicant：オリンパス光学工業株式会社
特開昭62-237411
特開昭62-039702

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