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J-GLOBAL ID：200903099695184451

タンデム質量分析

Inventor： デーリック,ピーター ジョン ,  レイノルズ,デビット ジョン ,  マカロフ,アレキサンダー アレクシービチ
Applicant, Patent owner： ユニバーシティ オブ ワーウィック
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996500523
Publication number (International publication number)：1998501095
Application date： May. 31, 1995
Publication date： Jan. 27, 1998
Summary：

【要約】タンデム質量分析装置は、イオン供給源10、一次飛行時間型手段20、80、フラグメントイオンを生成するための衝突セル40及び二次飛行時間型分析計50を包含する。二次飛行時間型分析計は、装置の光軸に沿って又はそれに対してある角度で二次場を生じるよう配列されるイオン鏡51、52を包含する。一次飛行時間型分析計は、トロイド状又は円筒状静電分析計70の逐次S形立体配置を包含し、2つの静電レンズ80及び96をイオン鏡のどちらかの側に包含し、又は静電レンズ80を包含し得る。したがって、一次飛行時間型分析計は二次飛行時間型分析計50のイオン鏡の入口に又は入口近くに3次元すべてにイオンの空間的収束を提供するための静電場を包含する。時間的収束と共在する空間的収束は、高分解能を生じるために二次場鏡にとっては不可欠な要件である。

Claim (excerpt)：

イオン供給源、一次飛行時間型手段、一次飛行時間型手段からイオンを解離してフラグメントイオンを生成するための手段、及び二次飛行時間型手段の順次配列から成るタンデム質量分析装置であって、二次飛行時間型手段が装置の光軸に沿って反射し実質的二次的場を生じるよう配列されるイオン鏡を包含し、一次飛行時間型手段がイオン鏡の入口又は入口近くにイオンの空間的収束を提供するための静電場手段を包含する装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-262358
  
• パルスビーム発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-187446   Applicant：理化学研究所
• 質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-274031   Applicant：株式会社日立製作所