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J-GLOBAL ID：200903099869804730
浮遊粒子分析装置および浮遊粒子分析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
横井 俊之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004346162
Publication number (International publication number)：2006153709
Application date： Nov. 30, 2004
Publication date： Jun. 15, 2006
Summary：
【課題】 浮遊粒子の比重が特定可能な浮遊粒子分析装置および浮遊粒子分析方法の提供を課題とする。【解決手段】 本発明において、分級管13によって浮遊粒子を質量ごとに分散させ、撮影することにより、浮遊粒子の径dと位置xとを取得することができる。そして、径dと位置xと比重ρとの対応関係を予め用意しておくことにより、径dと位置xとから比重ρを推定することができる。このようにすることにより、物質固有の比重ρを得ることができるため、浮遊粒子の素材や発生源を容易に特定することができる。【選択図】 図12
Claim (excerpt)：
流体中に浮遊する浮遊粒子についての分析を行う浮遊粒子分析装置において、
上記流体をコーナーに沿って湾曲させることにより、上記浮遊粒子を質量に応じて同コーナーの下流に設けられた検出エリア上の異なる位置に分散させる分級手段と、
上記検出エリアを撮像する撮像手段と、
この撮像手段にて撮像されたイメージから上記浮遊粒子の径と、同浮遊粒子の上記検出エリア上における位置とを特定する浮遊粒子検出手段と、
上記浮遊粒子の径と上記検出エリア上における位置とから上記浮遊粒子の比重を推定する比重推定手段とを具備することを特徴とする浮遊粒子分析装置。
IPC (1)：
FI (2)：
G01N15/02 F
, G01N15/02 B
