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J-GLOBAL ID：201002213939396752   Reference number：10A0235752

Electrical Properties of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors with Multiple Channels Measured by Scanning Gate Microscopy

走査ゲート顕微鏡で測定した複数チャンネル カーボン・ナノチューブ電界効果トランジスタの電気特性

Author (4)： OKIGAWA Yuki (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  KISHIMOTO Shigeru (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  OHNO Yutaka (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  MIZUTANI Takashi (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 49  Issue： 2,Issue 2  Page： 02BD02.1-02BD02.4  Publication year： Feb. 25, 2010 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *carbon nanotube ,  *FET ,  gate(semiconductor) ,  electrical property ,  scanning electron microscope ,  probe

JST classification (2)： Carbon and its compounds  (YB02060D) ,  Transistors  (NC03070N)

Reference (24)：

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Terms in the title (6)： 走査ゲート顕微鏡 ,  複数チャンネル ,  カーボン ,  ナノチューブ ,  電界効果トランジスタ ,  電気特性