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J-GLOBAL ID：201002214557467583   Reference number：10A1755395

ディラック電子系の固体物理 III.トポロジカル絶縁体 トポロジカル絶縁体の実験研究

Author (1)： ANDO YOICHI (大阪大 産科研)
Material： 固体物理  (Solid State Physics)
Volume： 45  Issue： 11  Page： 667-680  Publication year： Nov. 15, 2010 
JST Material Number： F0158B  ISSN： 0454-4544  CODEN： KOTBA2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： spin polarization ,  band structure ,  three dimension ,  surface level ,  angle resolved spectroscopy ,  *photoelectron spectrum ,  *scanning tunneling microscope ,  Landau level ,  Aharonov-Bohm effect ,  selenide (chalcogenide) ,  *bismuth compound ,  antimonide ,  telluride (chalcogenide) ,  *antimony compound ,  Shubnikov-de Haas effect ,  Fermi surface ,  *magnetoresistance effect ,  copper compound ,  *topological insulator ,  edge state ,  Dirac point ,  Dirac electron
Semi thesaurus term： universal conductance fluctuation

JST classification (1)： Electric conduction in other inorganic compounds  (BM03044O)

Terms in the title (5)： ディラック電子 ,  固体物理 ,  トポロジカル絶縁体 ,  実験 ,  研究