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J-GLOBAL ID：201002222757813527   Reference number：10A0042975

NIST乱数検定を用いた合理的なランダム性の判定法に関する考察

Author (3)： OKUTOMI HIDETOSHI (千葉大 大学院理学研究科) ,  OKUTOMI HIDETOSHI (東芝情報システム) ,  NAKAMURA KATSUHIRO (千葉大 大学院理学研究科)
Material： 電子情報通信学会論文誌 A  (IEICE Transaction on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Japan Edition))
Volume： J93-A  Issue： 1  Page： 11-22  Publication year： Jan. 01, 2010 
JST Material Number： S0621A  ISSN： 0913-5707  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pseudorandom number ,  *random number generation ,  mathematical property ,  laboratory ,  cryptogram ,  acceptance (test) ,  certification
Semi thesaurus term： NIST ,  randomness

JST classification (1)： Code theory  (ND02030R)

Reference (32)：

• A. Rukhin, J. Soto, J. Nechvatal, M. Smid, E. Barker, S. Leigh, M. Levenson, M. Vangel, D. Banks, A. Heckert, J. Dray, and S. Vo,“A statistical test suite for random and pseudorandom number generators for cryptographic applications,” NIST, Special Publication 800-22, May 2001.
• A. Rukhin, J. Soto, J. Nechvatal, M. Smid, E. Barker, S. Leigh, M. Levenson, M. Vangel, D. Banks, A. Heckert, J. Dray, and S. Vo,“A statistical test suite for random and pseudorandom number generators for cryptographic applications,” NIST, Special Publication 800-22 Revisionl, Aug.2008.
• 金 成主,梅野 健,長谷川晃朗,“NISTのランダム性評価テストについて,”信学技報, ISEC2003-87, Dec.2003.
• S. Kim, K, Umeno, and A. Hasegawa,“Corrections of the NIST statistical test suite for randomness,” Cryptology ePrint Archive, Report 2004/018, 2004.
• 金子敏信,“擬似乱数生成系の検定方法に関する調査報告書--Lempe1-Ziv圧縮検定について,”http://www.ipa.go.jp/security/enc/CRYPTREC/fy15/documents/rep_ID0206.pdf, Jan.2004.

Terms in the title (4)： NIST ,  乱数 ,  検定 ,  ランダム性