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J-GLOBAL ID：201002228613748214   Reference number：10A0790308

接着に関する分析技術 1.高分子-高分子の界面

Author (1)： OGISAWA TOSHIAKI (東京工大 大学院理工学研究科)
Material： 接着の技術  (Adhesion Technology, Japan)
Volume： 30  Issue： 1  Page： 1-7  Publication year： Jun. 30, 2010 
JST Material Number： G0890B  ISSN： 0289-8225  CODEN： SGIJE7  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *interface (surface) ,  *macromolecule ,  thickness of strata ,  compatibility (blend) ,  ellipsometry ,  concentration distribution ,  transmission electron microscope ,  atomic force microscope ,  surface roughness ,  adhesive strength ,  adhesion (bond) ,  diffusion coefficient ,  surface structure ,  scanning electron microscope ,  molecular structure ,  time resolution ,  copolymer ,  ellipsometer ,  *structure analysis ,  dissimilar material ,  *interface structure ,  interface layer ,  interfacial reaction ,  formation process ,  structure control ,  heat treatment temperature ,  structure

JST classification (4)： Solid-solid interface  (CB12060M) ,  Structure and morphology of polymer solids  (CG02022M) ,  Polarimetry and polarimeters  (BD07050K) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (3)： 分析技術 ,  高分子 ,  界面