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J-GLOBAL ID：201002249077198149   Reference number：10A0711476

Observation of Photodegradation in Amorphous Semiconductors by Ultraviolet Synchrotron Orbital Radiation

紫外シンクロトロン軌道放射によるアモルファス半導体における光分解の観測

Author (1)： HAYASHI K. (Gifu Univ., Gifu, JPN)
Material： UVSOR Activity Report  (UVSOR Act Rep)
Volume： 2009  Page： 134  Publication year： Jun. 2010 
JST Material Number： L2127A  ISSN： 0911-5730  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： synchrotron radiation ,  *amorphous semiconductor ,  *photolysis/photodisintegration ,  *photodarkning ,  photoconductivity ,  *Photoelectron Spectroscopy ,  amorphous silicon ,  arsenic sulfide ,  time resolved spectroscopy ,  *photoemission yield spectroscopy

JST classification (2)： Electron spectroscopy  (BM09060K) ,  Photochemical reactions  (CB08020F)

Terms in the title (3)： アモルファス半導体 ,  光分解 ,  観測