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J-GLOBAL ID：201002260235791280   Reference number：10A0874999

Theoretical Study of Quantum Interference Effects on Nanoscale Four-probe Measurements

ナノスケールの4端子抵抗測定における量子干渉効果の理論研究

Author (5)： TERASAWA ASAKO (東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻) ,  TOBIMATSU KEIJI (東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻) ,  TADA TOMOFUMI (東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻) ,  YAMAMOTO TAKAHIRO (東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻) ,  WATANABE SATOSHI (東京大学工学系研究科マテリアル工学専攻)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 31  Issue： 8  Page： 374-379 (J-STAGE)  Publication year： 2010 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *precision measurement ,  *electric resistance ,  Green function ,  tight binding approximation ,  carbon nanotube ,  quantum interference effect ,  *nanostructure ,  density functional method ,  numerical calculation ,  resonance ,  spacing ,  electron wave ,  multiple reflection
Semi thesaurus term： resonance state ,  *four-terminal method

JST classification (2)： General theory of electronic transport  (BM03020C) ,  Numerical computation  (JE02000J)

Reference (16)：

• 1) Y.-F. Hsiou, C. Chen, C.-H. Chan, L. Stobinski and Y.-J. Yang: Jpn. J. Appl. Phys. 44, 4245 (2005).
• 2) Y. Nosho, Y. Ohno, S. Kishimoto and T. Mizutani: Jpn. J. Appl. Phys. 46, L474 (2007).
• 3) S. Yoshimoto, Y. Murata, K. Kubo, K. Tomita, K. Motoyoshi, T. Kimura, H. Okino, R. Hobara, I. Matsuda, S. Honda, M. Katayama and S. Hasegawa: Nano Lett. 7, 956 (2007).
• 4) Y. Kitaoka, T. Tono, S. Yoshimoto, T. Hirahara, S. Hasegawa and T. Ohba: Appl. Phys. Lett. 95, 052110 (2009).
• 5) B. Gao, Y.F. Chen, M.S. Fuhrer, D.C. Glattli and A. Bachtold: Phys. Rev. Lett. 95, 196802 (2005).

Terms in the title (5)： ナノスケール ,  抵抗測定 ,  量子干渉効果 ,  理論 ,  研究