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J-GLOBAL ID：201002275526729457   Reference number：10A1063553

最近の研究と技術 Delta型新球面収差補正装置

Author (16)： SAWADA HIDETAKA (JST-CREST) ,  SAWADA HIDETAKA (日本電子) ,  SASAKI TAKEO (JST-CREST) ,  SASAKI TAKEO (日本電子) ,  YUASA SHUICHI (日本電子) ,  TERAO MITSUHISA (日本電子) ,  KAWAZOE MUNEYUKI (日本電子) ,  NAKAMICHI TOMOHIRO (日本電子) ,  HOSOKAWA FUMIO (日本電子) ,  KANEYAMA TOSHIKATSU (JST-CREST) ,  KANEYAMA TOSHIKATSU (日本電子) ,  KONDO YUKIHITO (日本電子) ,  KIMOTO KOJI (JST-CREST) ,  KIMOTO KOJI (物質・材料研究機構) ,  SUENAGA KAZUTOMO (JST-CREST) ,  SUENAGA KAZUTOMO (産業技術総合研 ナノチューブ応用研究セ)
Material： 顕微鏡  (Microscopy)
Volume： 45  Issue： 3  Page： 193-197  Publication year： Sep. 30, 2010 
JST Material Number： Y0541A  ISSN： 1349-0958  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *aberration correction ,  equipment ,  *structure ,  *structure analysis ,  *electron microscopy ,  aberration ,  *spherical aberration correction ,  *local structure ,  high-order aberration

JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Reference (16)：

• 1)http://www.busshitu.jst.go.jp/kadai/year03/team03.html
• 2)Suenaga, K., Sato, Y., Liu, Z., Kataura, H., Okazaki, T., Kimoto, K., Sawada, H., Sasaki, T., Omoto, K., Tomita, T., Kaneyama, T. and Kondo. Y.: Nature chemistry, 1, 415-418 (2009)
• 3)Sawada, H., Sasaki, T., Hosokawa, F., Yuasa, S., Terao, M., Kawazoe, M., Nakamichi, T., Kaneyama, T., Kondo, Y., Kimoto, K. and Suenaga, K.: J. Electron Microsc., 58, 341-347 (2009)
• 4)Sasaki, T., Sawada, H., Hosokawa, F., Kohno, Y., Tomita, T., Kaneyama, T., Kondo, Y., Kimoto, K., Sato, Y. and Suenaga, K.: J. Electron Microsc., 59, S7-S13 (2010)
• 5)Beck, V.: Optik, 53, 241-255 (1979)

Terms in the title (3)： 研究 ,  Delta ,  球面収差補正