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J-GLOBAL ID：201002276099346157   Reference number：10A1046432

Resolution Improvement in Vertical-Cavity-Surface-Emitting-Laser Diode Interferometry Based on Linear Least-Squares Estimation of Phase Gradients of Phase-Locked Fringes

位相同期干渉縞の位相勾配の線形最小二乗推定に基づく垂直共振器形面発光レーザ干渉法における分解能改善

Author (2)： KAKUMA Seiichi (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  KATASE Yasuhiko (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
Material： Optical Review  (Opt Rev)
Volume： 17  Issue： 5  Page： 481-485  Publication year： Oct. 01, 2010 
JST Material Number： L2272A  ISSN： 1340-6000  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： vertical cavity surface emitting laser ,  resolving power ,  *interferometry ,  interference fringe ,  phase locked loop ,  least squares method ,  scanning ,  *length measurement
Semi thesaurus term： VCSEL ,  *interferometry

JST classification (2)： Interferometry and interferometers  (BD07070G) ,  Measuring methods and instruments of length,area,cross section,volume,angle  (AD05020O)

Reference (11)：

• ONODERA, R. Opt. Commun. 1998, 149, 143
• KIKUTA, H. Appl. Opt. 1986, 25, 2976
• HIBINO, K. Appl. Opt. 2003, 42, 3888
• TALAMONTI, J. J. Appl. Opt. 1996, 35, 2182
• BITOU, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 2002, 41, 384

Terms in the title (9)： 位相同期 ,  干渉縞 ,  位相 ,  勾配 ,  線形 ,  最小二乗推定 ,  垂直共振器形面発光レーザ ,  干渉法 ,  分解能