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J-GLOBAL ID：201002294990897502   Reference number：10A0660574

Broadband Terahertz Spectroscopy and its Application to the Characterization of Thin Films

広帯域テラヘルツ分光法とその薄膜評価への応用

Author (2)： KATAYAMA IKUFUMI (横浜国立大学学際プロジェクト研究センター) ,  ASHIDA MASAAKI (大阪大学基礎工学研究科)
Material： Journal of the Vacuum Society of Japan  (真空)
Volume： 53  Issue： 5  Page： 301-308 (J-STAGE)  Publication year： 2010 
JST Material Number： G0194A  ISSN： 1882-2398  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *time domain spectroscopy ,  permittivity ,  photoconductivity ,  pulse duration ,  pulsed laser ,  antenna (electric) ,  *complex permittivity ,  *wide band ,  nonlinear optical material ,  *crystal
Semi thesaurus term： *terahertz time domain spectroscopy ,  有機非線形結晶

JST classification (1)： Infrared spectroscopy and spectrometers  (BD07042H)

Reference (46)：

• RULLIERE, C. ed. Ultrashort laser pulses. 2005
• CORKUM, P. ed. Ultrafast Phenomena. 2009, XVI
• AUSTON, D. H. Appl. Phys. Lett. 1984, 45, 284
• TONOUCHI, M. Nature photonics. 2007, 1, 97
• FERGUSON, B. Nature Materials. 2002, 1, 26

Terms in the title (5)： 広帯域 ,  テラヘルツ分光法 ,  薄膜 ,  評価 ,  応用