におい測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小林良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008282674
Publication number (International publication number)：2010112709
Application date： Nov. 04, 2008
Publication date： May. 20, 2010
Summary：

【課題】面倒なにおいの官能評価を簡単化するとともに、においの程度について客観的な評価値を提供する。【解決手段】ガス調製部1において調製部12は選択された中心においガスへの測定対照においガスの混合割合を徐々に増やし、評価担当者100は調製されたガスのにおいをスニッフィングポート15で嗅ぎ、においの変化を認識したときに弁別点指示部17を操作する。その操作により調製制御部13は弁別点に対応したにおい混合比を記憶し、調製部12はその混合比を基準単位としたスケール軸に則った混合比のガスを調製する。測定部2においてデータ処理部28は調製されたガスに応じた検出データを収集し、弁別点基準単位スケール軸上の評価値と検出データとの関係を示す検量線を作成して記憶部29に記憶する。この検量線を参照して未知サンプルの測定結果から、弁別点を基準単位とした評価値を求めることができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料ガス中の測定対象においを測定するにおい測定装置であって、 a)異なる応答特性を有する複数のにおいセンサを含む測定手段と、 b)主においガスに所定の混合割合で測定対象においガスを混合した既知サンプルガスを調製するガス調製手段と、 c)前記ガス調製手段により調製された既知サンプルガスを評価者が嗅いだときに官能的に差が生じる弁別点の混合割合を情報として取得する弁別点取得手段と、 d)前記弁別点に対応した混合割合を基準単位として主においガスに対する測定対象においガスの混合割合を前記ガス調製手段により変えたときのガスを前記測定手段により測定し、その測定結果に基づいて弁別点を基準単位とした評価点を求めるための検量線を作成する検量線作成手段と、 e)未知のサンプルガスを前記測定手段により測定した結果を前記検量線に照らし、弁別点を基準単位とした評価点を算出する定量化手段と、を備えることを特徴とするにおい測定装置。

IPC (1)：

G01N 27/12

FI (1)：

G01N27/12 A

F-Term (2)：

2G046AA01 , 2G046DC01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

におい測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-254975 Applicant：株式会社島津製作所
特許第3873491号公報
におい識別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-123635 Applicant：株式会社島津製作所

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Cited by examiner (7)

匂識別方法及び匂識別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-128793 Applicant：筑波大学長
におい識別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-123635 Applicant：株式会社島津製作所
におい評価方法及びにおい評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-074937 Applicant：株式会社島津製作所

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