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J-GLOBAL ID：201003012256238793

顕微分光装置

Inventor： 谷口 博基 ,  藤井 康裕
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東京工業大学
Agent (1)： 家入 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008179197
Publication number (International publication number)：2010019630
Application date： Jul. 09, 2008
Publication date： Jan. 28, 2010
Summary：

【課題】物質内部の動態をより詳細に計測することができる顕微分光装置を提供する。【解決手段】試料Sの一部もしくは全部を測定部分として分光測定を行う共焦点顕微分光装置100であって、光軸に対して対称な偏光分布を有する軸対称偏光レーザ光を生成する分布型液晶旋光子3と、分布型液晶旋光子3により生成された軸対称偏光レーザ光を試料Sに集光する対物レンズ8と、を備え、対物レンズ8は、試料Sからの反射光及び/又は散乱光を集光するように構成した。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料の一部もしくは全体を測定部分として分光測定を行う顕微分光装置であって、 光軸に対して対称な偏光分布を有する軸対称偏光レーザ光を生成する軸対称偏光生成手段と、 前記軸対称偏光生成手段により生成された軸対称偏光レーザ光を前記試料に集光する集光手段と、 を備え、 前記集光手段は、前記試料からの反射光及び/又は散乱光を集光する顕微分光装置。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G02B 21/06

FI (2)：

G01N21/27 E ,  G02B21/06

F-Term (20)：

2G059AA05 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2H052AA01 ,  2H052AA08 ,  2H052AC01 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AC30 ,  2H052AC34 ,  2H052AF07 ,  2H052AF14

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 共焦点顕微分光装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-356484   Applicant：株式会社東京インスツルメンツ, 独立行政法人科学技術振興機構