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J-GLOBAL ID:201003017624338665
歩行特性評価システムおよび軌跡生成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
富沢 知成
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008283978
Publication number (International publication number):2010110399
Application date: Nov. 05, 2008
Publication date: May. 20, 2010
Summary:
【課題】 歩行が困難な患者などにおける種々の3次元歩行特性を、どこでも無拘束で長時間測定して導出することができ、医師などの診断に必要な情報を十分に提示することのできる歩行特性評価システムを提供すること。 【解決手段】 歩行特性評価システム1は、一または複数の身体装着型センサ2、携帯型データ記録装置3および解析装置4からなる。身体装着型センサ2としては足の加速度および角速度を測定可能、かつ、少なくとも足爪先装着用のセンサを備え、携帯型データ記録装置3は身体装着型センサ2によって測定されたデータを記録し、解析装置4はそのデータを演算処理して一歩ごとの足爪先の3次元軌跡を生成可能なように形成された構成である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
一または複数の身体装着型センサ、携帯型データ記録装置および解析装置からなる歩行特性評価システムであって、該身体装着型センサは足の加速度および角速度を測定可能でありかつ少なくとも足爪先装着用のものが備えられており、該携帯型データ記録装置は該身体装着型センサにより測定されたデータを記録するものであり、該解析装置は該携帯型データ記録装置に記録されたデータを演算処理して一歩ごとの足爪先の3次元軌跡を生成する、歩行特性評価システム。
IPC (3):
A61B 5/11
, G01C 22/00
, G01P 7/00
FI (3):
A61B5/10 310G
, G01C22/00 W
, G01P7/00
F-Term (8):
2F024BA04
, 2F024BA10
, 2F024BA15
, 4C038VA12
, 4C038VB14
, 4C038VB17
, 4C038VC09
, 4C038VC20
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (4)
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歩行分析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-011160
Applicant:横河電機株式会社
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歩行者の動態検知装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-284426
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立アドバンストシステムズ
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歩行動作分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-008507
Applicant:松下電工株式会社
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周期運動体の移動軌跡算出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-370509
Applicant:学校法人立命館
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