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J-GLOBAL ID：201003029575496533

放射線画像処理装置および方法

Inventor：
渡邊 敬太

About 渡邊 敬太


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (3)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  本澤 大樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008177612
Publication number (International publication number)：2010017209
Application date： Jul. 08, 2008
Publication date： Jan. 28, 2010
Summary：
【課題】1回当たりのキャリブレーション作業に掛かる時間を短縮する。【解決手段】データベースDB内の複数の欠陥画素情報R(k,m)のうち、更新すべき欠陥画素情報R(k,m)が決定されるとともに、その欠陥画素情報R(k,m)を取得するための放射線照射量および蓄積時間が決定される。そして、決定された放射線照射量および蓄積時間による放射線撮影が行われ、基準画像Prefが取得される。次に、基準画像Prefから中央領域CRもしくは周辺領域ARのいずれか一方が分割領域DRとして選択され、分割領域DR内の欠陥画素Pxの検出が行われる。そして、検出した欠陥画素Pxの位置情報が欠陥画素情報R(k,m)としてデータベースDBに記憶される。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
放射線検出器に放射線源から放射線が一様に照射されたとき、または該放射線が照射されないときに前記放射線検出器において検出される基準画像を取得する画像取得手段と、 該画像取得手段において取得された前記基準画像を複数の分割領域に分割し、該各分割領域を異なる頻度で選択する領域選択手段と、 該領域選択手段において選択された前記分割領域内の画素の中から欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、 該欠陥画素検出手段により検出された前記欠陥画素の位置を欠陥画素情報として記憶し更新するデータベースと を備えたことを特徴とする放射線画像処理装置。
IPC (3)：
A61B 6/00 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335
FI (5)：
A61B6/00 350Z ,  H04N5/32 ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/00 320M ,  H04N5/335 P
F-Term (12)：
4C093AA26 ,  4C093CA13 ,  4C093CA18 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA52 ,  4C093FC17 ,  4C093FD03 ,  4C093FD07 ,  4C093FF16 ,  5C024AX11 ,  5C024CX23
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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