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J-GLOBAL ID：201003031951412693

画像診断支援装置及びプログラム

Inventor：
後藤 良洋

About 後藤 良洋

, 
中澤 哲夫

About 中澤 哲夫

, 
本田 哲史

About 本田 哲史


Applicant, Patent owner：
株式会社日立メディコ

About 株式会社日立メディコ


Agent (1)： 特許業務法人 山王坂特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008233309
Publication number (International publication number)：2010063667
Application date： Sep. 11, 2008
Publication date： Mar. 25, 2010
Summary：
【課題】異常部位の判定(特に胸膜異常)に有用な定量的な情報を提示しうる画像診断支援装置及びプログラムを提供する。【解決手段】断層画像41上の定量分析を所望する部位(異常が疑われる部位)を横断する直線45の濃度値プロファイルである計測曲線55と、正常な部位の濃度値プロファイルである参照曲線54とを、伸縮/移動させて対応付けた後、両曲線の減算を行い、その結果を差分曲線56として表示する。差分曲線56において差分値が相対的に大きい部分の幅を目盛58で読み取る。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
画像表示装置の画面に表示された被検体の断層画像上に、その断層画像において定量分析を所望する部位を横断する直線の入力を受け付ける入力手段と、 前記直線上の濃度値を読み出す濃度値算出手段と、 前記直線上の位置に沿って、前記読み出された濃度値をプロットした濃度値プロファイルである計測曲線を生成し、その計測曲線を、一の軸が前記直線上の位置を示し、他の軸が濃度値を示す座標系上に表示するとともに、前記計測曲線と対比判断するための濃度値プロファイルである参照曲線を前記座標系上に表示するプロファイル表示手段と、 前記座標系上において、前記計測曲線と前記参照曲線との前記一の軸方向の位置を対応付ける対応付け手段と、 前記計測曲線と前記参照曲線とを減算し、その減算結果を前記画面に表示する結果表示手段と、 を含むことを特徴する画像診断支援装置。
IPC (1)：
A61B 6/03
FI (1)：
A61B6/03 360B
F-Term (13)：
4C093AA22 ,  4C093AA26 ,  4C093CA18 ,  4C093DA03 ,  4C093FD13 ,  4C093FF12 ,  4C093FF13 ,  4C093FF21 ,  4C093FF22 ,  4C093FF37 ,  4C093FG12 ,  4C093FG13 ,  4C093FG14
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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