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J-GLOBAL ID:201003038378693440
放射線プローブおよびそれを用いた放射線計測装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (3):
伊藤 洋二
, 三浦 高広
, 水野 史博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008185634
Publication number (International publication number):2010025658
Application date: Jul. 17, 2008
Publication date: Feb. 04, 2010
Summary:
【課題】放射線源から放射線が放射される方向に長さを確保できない場所で放射線計測を行うことができるようにする。【解決手段】放射線が照射されると光を発するシンチレータ11と、一端部12aと他端部12bとを有し、一端部12aにはシンチレータ11が取り付けられると共に光が入射される入射面12cが設けられ、他端部12bには光が射出される射出面12dが設けられ、入射面12cから射出面12dに光を導く光導波路12とにより放射線プローブ10を構成する。また、入射面12cを射出面12dに対して垂直に配置する。これにより、入射面12cに対して垂直な方向の長さを小さくして光導波路12に光を入射することが可能となる。【選択図】図2
Claim (excerpt):
放射線が照射されると光を発するシンチレータ(11)と、
一端部(12a)と他端部(12b)とを有し、前記一端部(12a)には前記シンチレータ(11)が取り付けられると共に前記光が入射される入射面(12c)が設けられ、前記他端部(12b)には前記光が射出される射出面(12d)が設けられ、前記入射面(12c)から前記射出面(12d)に前記光を導く導光手段(12)とを備え、
前記入射面(12c)は前記射出面(12d)に対して角度を持っていることを特徴とする放射線プローブ。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (6):
2G088EE30
, 2G088FF04
, 2G088GG14
, 2G088GG17
, 2G088JJ04
, 2G088JJ09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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放射線計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-243698
Applicant:株式会社東芝, 東芝エンジニアリング株式会社
Cited by examiner (3)
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X線診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-105163
Applicant:株式会社東芝
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特開平3-092789
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基板検査用X線カメラおよびX線基板検査装置ならびにX線基板検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-029876
Applicant:松下電器産業株式会社
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