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J-GLOBAL ID：201003040025204741

非線形ラマン散乱光測定装置

Inventor：
長谷川 一英

About 長谷川 一英


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008160195
Publication number (International publication number)：2010002256
Application date： Jun. 19, 2008
Publication date： Jan. 07, 2010
Summary：
【課題】非線形ラマン散乱光測定装置において、被検体を構成する複数種類の分子を一度に分析する際の測定速度を高める。【解決手段】光照射部10により、ポンプ光Lpと、複数種類の分子を個別に分析するために定められた互に異なる波長を持つ複数のピークを有し、かつポンプ光Lpよりも波長が長いストークス光Lsとを被検体1に同時に照射する。スペクトル取得部60が、ストークス光Lsの照射を受けた被検体1から発せられる非線形ラマン散乱光Lcのスペクトルを取得する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
ポンプ光と該ポンプ光よりも波長が長くエネルギの小さいストークス光とを被検体に同時に照射するための光照射手段と、 前記照射を受けた前記被検体から発せられる非線形ラマン散乱光のスペクトルを取得するスペクトル取得手段とを備えた非線形ラマン散乱光測定装置であって、 前記ストークス光が、複数種類の分子を個別に分析するために定められた互に異なる波長を持つ複数のピークを有するものであることを特徴とする非線形ラマン散乱光測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/65
FI (1)：
G01N21/65
F-Term (18)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043EA04 ,  2G043FA01 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA01 ,  2G043JA03 ,  2G043KA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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