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J-GLOBAL ID:201003040475355740

超音波応力測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 田中 光雄 ,  鮫島 睦 ,  和田 充夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009295690
Publication number (International publication number):2010169680
Application date: Dec. 25, 2009
Publication date: Aug. 05, 2010
Summary:
【課題】測定対象物の残留応力をより高精度に測定することができる超音波測定方法を提供する。【解決手段】層構造を有する測定対象物の残留応力を、超音波を用いて測定する超音波測定方法であって、測定対象物内の測定対象層の自由度の数に応じて複数の振動モードを設定し、設定した振動モードに対応する超音波を測定対象層に発信し当該測定対象層で反射された超音波を受信して測定対象層の固有振動数を測定する測定動作を、前記それぞれの振動モードについて行ない、前記測定動作により得られた各振動モードに対する固有振動数の複数の測定データに基づいて測定対象層の残留応力を測定する、ことを含む。【選択図】図1
Claim (excerpt):
測定対象物内の測定対象層の残留応力を、超音波を用いて測定する超音波測定方法であって、 前記測定対象層の自由度の数に応じて複数の振動モードを設定し、 前記設定した振動モードに対応する超音波を前記測定対象層に発信し当該測定対象層で反射された超音波を受信して前記測定対象層の固有振動数を測定する測定動作を、前記それぞれの振動モードについて行ない、 前記測定動作により得られた前記各振動モードに対する前記固有振動数の複数の測定データに基づいて、前記測定対象層の残留応力を測定する、 超音波応力測定方法。
IPC (1):
G01L 1/00
FI (1):
G01L1/00 C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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