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J-GLOBAL ID：201003047299637592

超音波測定方法及び装置

Inventor：
野間 彰

About 野間 彰

, 
原田 朋弘

About 原田 朋弘

, 
井上 敬太

About 井上 敬太


Applicant, Patent owner：
三菱重工業株式会社

About 三菱重工業株式会社

, 
三菱重工環境・化学エンジニアリング株式会社

About 三菱重工環境・化学エンジニアリング株式会社


Agent (1)： 特許業務法人 高橋松本&パートナーズ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008291879
Publication number (International publication number)：2010117294
Application date： Nov. 14, 2008
Publication date： May. 27, 2010
Summary：
【課題】超音波を用いて、密度分布が均一でない被測定体の厚さ又は音速、さらには音速分布を精度良く求めることができる超音波測定方法及び装置を提供する。【解決手段】超音波を用いて、密度分布が均一でない溶融固化物又は焼結固化物からなる被測定体50の音速と厚さを測定する超音波測定方法において、被測定体50の表面に配置された針状の発振探触子11aにより垂直方向に低周波横波超音波を発振し、前記発振探触子11aと同一面上で且つ該発振探触子11aから離間した複数の受振位置にて針状の受振探触子11aにより反射波を受振し、前記受振位置のうち超音波の反射点Pが同一である受振位置を複数選択し、該選択された各受振位置における反射波波形に基づいて夫々の超音波伝播時間τを求め、該伝播時間τを用いて音速vと厚さhをパラメータとした連立方程式を解くことにより被測定体50の音速と厚さを求める。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
超音波を用いて、密度分布が均一でない溶融固化物又は焼結固化物からなる被測定体の音速と厚さを測定する超音波測定方法において、 前記被測定体の表面に配置された針状の発振探触子により垂直方向に低周波横波超音波を発振し、前記発振探触子と同一面上で且つ該発振探触子から離間した複数の受振位置にて針状の受振探触子により反射波を受振し、 前記受振位置のうち超音波の反射点が同一である受振位置を複数選択し、該選択された各受振位置における反射波波形に基づいて夫々の超音波伝播時間を求め、該伝播時間を用いて音速と厚さをパラメータとした連立方程式を解くことにより前記被測定体の音速又は厚さを求めることを特徴とする超音波測定方法。
IPC (2)：
G01B 17/02 ,  G01N 29/00
FI (2)：
G01B17/02 Z ,  G01N29/18
F-Term (32)：
2F068AA28 ,  2F068BB22 ,  2F068BB24 ,  2F068DD12 ,  2F068FF03 ,  2F068FF20 ,  2F068FF25 ,  2F068GG01 ,  2F068HH02 ,  2F068KK14 ,  2F068KK18 ,  2G047AA05 ,  2G047AA10 ,  2G047AB01 ,  2G047AB04 ,  2G047BA03 ,  2G047BC02 ,  2G047BC09 ,  2G047BC10 ,  2G047BC11 ,  2G047BC12 ,  2G047BC18 ,  2G047CA01 ,  2G047CB02 ,  2G047EA10 ,  2G047GB02 ,  2G047GB17 ,  2G047GG13 ,  2G047GG14 ,  2G047GG15 ,  2G047GG17 ,  2G047GH04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (4)
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