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J-GLOBAL ID：201003060283644030

眼科撮影装置

Inventor：
佐竹 倫全

About 佐竹 倫全


Applicant, Patent owner：
株式会社ニデック

About 株式会社ニデック


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008283872
Publication number (International publication number)：2010110393
Application date： Nov. 05, 2008
Publication date： May. 20, 2010
Summary：
【課題】 眼底の3次元撮影により取得された3次元画像の良否を好適に行う。【解決手段】 被検眼の所定部位における断層画像を得るための干渉光学系と、前記所定部位における正面画像を得るための観察光学系と、前記断層画像と観察用正面眼底画像とを表示する表示手段と、を備える眼科撮影装置において、干渉光学系に配置された第1受光素子により得られる受光信号に基づいてOCT正面画像を取得すると共に、前記観察光学系に配置された第2受光素子から受光信号に基づいて得られる観察用正面画像を基準画像として設定し、OCT正面画像と基準画像とを比較して基準画像に対するOCT正面画像の位置ずれを画像処理により検出する位置ずれ検出手段と、位置ずれ検出手段による検出結果とOCT正面画像とを前記表示手段の画面上に表示させる制御手段と、を備える。【選択図】 図8
Claim (excerpt)：
低コヒーレント長の光を発する光源と、該光源から発せられた測定光を被検眼の所定部位上で走査させる走査手段と、該光源から発せられた光によって生成される参照光と被検眼の所定部位に照射された前記測定光による反射光との合成により得られる干渉光を受光する第1の受光素子と、を有し、被検眼の所定部位における断層画像を得るための干渉光学系と、 被検眼の前記所定部位に照明光を照射する照明光学系と、被検眼の前記所定部位からの反射光を第2の受光素子により受光する受光光学系と、を有し、前記所定部位における正面画像を得るための観察光学系と、 前記第1の受光素子から出力される受光信号に基づいて取得される断層画像と前記第2の受光素子から出力される受光信号に基づいて取得される観察用正面眼底画像とを表示する表示手段と、を備える眼科撮影装置において、 前記第1受光素子により得られる受光信号に基づいてOCT正面画像を取得すると共に、前記第2受光素子から受光信号に基づいて得られる前記観察用正面画像を基準画像として設定し、 前記OCT正面画像と前記基準画像とを比較して前記基準画像に対する前記OCT正面画像の位置ずれを画像処理により検出する位置ずれ検出手段と、 該位置ずれ検出手段による検出結果と前記OCT正面画像とを前記表示手段の画面上に表示させる制御手段と、を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
IPC (4)：
A61B 3/12 ,  A61B 3/10 ,  A61B 3/14 ,  G01N 21/17
FI (5)：
A61B3/12 E ,  A61B3/10 R ,  A61B3/10 W ,  A61B3/14 J ,  G01N21/17 620
F-Term (19)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059FF03 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 眼科撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-204425   Applicant：株式会社ニデック
Cited by examiner (3)

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