Pat
J-GLOBAL ID：201003064808483372
クラスタリング計算装置、クラスタリング計算方法、クラスタリング計算プログラム並びにそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
磯野 道造
, 大石 恵
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009015338
Publication number (International publication number)：2010175614
Application date： Jan. 27, 2009
Publication date： Aug. 12, 2010
Summary：
【課題】ダイアライゼーションにおいて、話者数と各話者を特徴づけるパラメータを正確に推定するクラスタリング技術を提供する。【解決手段】クラスタリング計算装置3は、録音された会話データから抽出されたパワーベクトルを読み込んでdHDP近似モデルに対応したベクトルの観測量に変換する観測量生成部26と、変換された観測量の集合データを蓄積記憶する記憶手段10と、観測量の集合データから複数のクラスタをdHDP近似モデルにより生成するときの複数のパラメータの事後分布の値をEMアルゴリズムによりそれぞれ推定し、記憶手段10に順次蓄積および更新する変分事後分布推論部30と、事前に設定された終了条件が成立したときに、記憶手段10に記憶されている複数のパラメータの事後分布の最新の推定値を出力する出力制御部28とを備える。【選択図】図8
Claim (excerpt)：
話者数が未知である会話の録音データから前記会話の話者数を推定するために、各話者を特徴付ける特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、前記抽出された特徴量から前記各話者に対応する複数のクラスタを生成するときの複数の未知パラメータの値をそれぞれ推定するクラスタリング計算装置と、前記推定された複数のパラメータ値により前記会話の各話者を識別する識別手段とを有したダイアライゼーションシステムの前記クラスタリング計算装置であって、
前記抽出された特徴量を読み込む読込手段と、
前記読み込んだ特徴量をノンパラメトリックベイズモデルに対応したベクトルの観測量に変換する観測量生成手段と、
前記変換された観測量の集合データを蓄積記憶する観測量記憶手段と、
前記観測量の集合データから複数のクラスタをノンパラメトリックベイズモデルにより生成するときの複数のパラメータの事後分布の値をEMアルゴリズムによりそれぞれ推定および更新する事後分布推論手段と、
前記推定および更新された複数のパラメータの事後分布の値を蓄積記憶する推定値記憶手段と、
事前に設定された終了条件が成立したときに前記推定値記憶手段に記憶されている前記複数のパラメータの事後分布の最新の推定値を出力する出力制御手段と、
を備えることを特徴とするクラスタリング計算装置。
IPC (3)：
G10L 21/02
, G10L 17/00
, G06N 5/04
G10L21/02 201D
, G10L17/00 200B
, G10L21/02 203Z
, G06N5/04 580A
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (6)
Show all
Return to Previous Page
