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J-GLOBAL ID：201003075600332720

質量分析用プレートとそれを用いた薄層クロマトグラフィ-質量分析方法及び装置

Inventor： 大橋 好輝 ,  三島 有二 ,  長谷川 孝行 ,  塩川 善郎 ,  丸山 はる美
Applicant, Patent owner： ツルイ化学株式会社 ,  キヤノンアネルバテクニクス株式会社
Agent (2)： 室田 力雄 ,  羽柴 拓司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007159672
Publication number (International publication number)：2010190573
Application date： Jun. 18, 2007
Publication date： Sep. 02, 2010
Summary：

【課題】有機化合物の合成や創薬分野に制限されず、環境、食品、工業品、その他における被測定成分の同定、定量分析を、複雑なインターフェースを必要とせず、且つ濃度の低い被測定成分にも適用して、簡単に、低コストで行うことを可能とする質量分析用プレートとそれを用いた薄層クロマトグラフィ-質量分析方法及び装置の提供を課題とする。【解決手段】薄層クロマトグラフィ用プレート上で分離された被測定成分を該薄層クロマトグラフィ用プレートから転写させて質量分析に供するための質量分析用プレート30であって、プレート基板31上に被測定成分を担持するための固定相32として、吸着活性のない担体を積層してある。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

薄層クロマトグラフィ用プレート上で分離された被測定成分を該薄層クロマトグラフィ用プレートから転写させて質量分析に供するための質量分析用プレートであって、 プレート基板上に被測定成分を担持するための固定相として、吸着活性のない担体を積層してあることを特徴とする質量分析用プレート。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (2)：

G01N27/62 F ,  G01N27/62 G

F-Term (12)：

2G041CA01 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA20 ,  2G041EA02 ,  2G041EA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA17 ,  2G041HA01 ,  2G041JA07 ,  2G041JA08 ,  2G041JA16

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 薄層クロマトグラフ質量分析計による混合物の分離・定性分析方法及び薄層クロマトグラフ質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-023495   Applicant：キヤノン株式会社