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J-GLOBAL ID：201003080911618001

物体表面法線ベクトルマップ作成方法

Inventor： 戸塚 永史
Applicant, Patent owner： JUKI株式会社
Agent (3)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008298052
Publication number (International publication number)：2010122158
Application date： Nov. 21, 2008
Publication date： Jun. 03, 2010
Summary：

【課題】少ない演算回数で精度の高い物体表面法線ベクトルマップを作成できるようにする。【解決手段】同一の固定カメラ12により、同一の対象物10を光源1〜4を個別使用して、対応する4つの原画像を取得し、各原画像の対応する画素毎に、Lambertの余弦則に基づいて各光源毎に拡散反射光の輝度式を求め、各光源毎に求められた4以上の輝度式の各3式を連立させ、各光源毎の仮の物体表面法線ベクトルを求め、求められた4以上の仮の物体表面法線ベクトルに基づいて、当該画素の真の物体表面法線ベクトルを決定すると共に、以上の処理を対象とする各画素について実行し、前記対象物を撮像した画像における物体表面法線ベクトルマップを作成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

同一の固定カメラにより、同一の対象物を4以上の光源を個別使用して、対応する4以上の原画像を取得し、各原画像の対応する画素毎に、Lambertの余弦則に基づいて各光源毎に拡散反射光の輝度式を求め、 各光源毎に求められた4以上の輝度式の各3式を連立させ、各光源毎の仮の物体表面法線ベクトルを求め、 求められた4以上の仮の物体表面法線ベクトルに基づいて、当該画素の真の物体表面法線ベクトルを決定すると共に、 以上の処理を対象とする各画素について実行し、前記対象物を撮像した画像における物体表面法線ベクトルマップを作成することを特徴とする物体表面法線ベクトルマップ作成方法。

IPC (1)：

G01B 11/26

FI (1)：

G01B11/26 H

F-Term (15)：

2F065AA35 ,  2F065BB05 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065DD06 ,  2F065FF44 ,  2F065GG13 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ42

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 形状計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-070313   Applicant：三菱電機株式会社