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J-GLOBAL ID：201003084457538605

非破壊検査方法及びその装置

Inventor：
大石 祐嗣

About 大石 祐嗣

, 
藤井 隆

About 藤井 隆


Applicant, Patent owner：
財団法人電力中央研究所

About 財団法人電力中央研究所


Agent (2)： 栗原 浩之 ,  村中 克年
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009102422
Publication number (International publication number)：2010249785
Application date： Apr. 20, 2009
Publication date： Nov. 04, 2010
Summary：
【課題】検査対象物の残肉厚を適切に検出することができる非破壊検査方法を提供する。【解決手段】所定の厚みを有する配管10B等の検査対象物にγ線E0をその厚さ方向に照射し、コンプトン効果により散乱された散乱γ線Eのうち特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線Eを弁別し、弁別した散乱γ線Eに基づき前記配管10Bの散乱γ線Eによる二次元の画像C1 ́,C2 ́を得、この二次元の画像C1 ́,C2 ́を正常な配管10Aの画像C1,C2と比較することにより前記配管10Bの状態を検査するようにした。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
所定の厚みを有する検査対象物にγ線をその厚さ方向に照射するとともにコンプトン散乱により散乱された散乱γ線のうち特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線を弁別し、弁別した散乱γ線に基づき前記検査対象物の散乱γ線に基づくデータを得、このデータを前記検査対象物の基準の状態が保証された同様の基準のデータと比較することにより前記検査対象物の状態を検査するようにしたことを特徴とする非破壊検査方法。
IPC (2)：
G01N 23/20 ,  G01B 15/02
FI (2)：
G01N23/20 ,  G01B15/02 A
F-Term (28)：
2F067AA27 ,  2F067AA64 ,  2F067BB06 ,  2F067HH05 ,  2F067HH15 ,  2F067JJ04 ,  2F067KK07 ,  2F067KK08 ,  2F067LL03 ,  2F067LL14 ,  2F067NN07 ,  2F067RR29 ,  2G001AA02 ,  2G001BA14 ,  2G001BA15 ,  2G001CA02 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001JA06 ,  2G001KA11 ,  2G001LA02 ,  2G001MA06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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